射频磁控溅射法生长Mg0.1Zn0.9O:Al紫外透明导电膜性质研究
用射频磁控溅射法在玻璃衬底上制备了Mg0.1Zn0.9O:Al薄膜,衬底温度由30℃变化到230℃.X射线衍射结果表明Mg0.1Zn0.9O:Al薄膜为单相六角纤锌矿结构,具有(002)择优取向,衬底温度为180℃时制备薄膜的结晶程度较好.Mg0.1Zn0.9O:Al薄膜的电阻率约为9.0×10-2Ωcm,在可见光范围内平均透过率达到85﹪,制备薄膜的带隙宽度约为3.62eV.
MgZnO 薄膜 射频磁控溅射法 透明导电膜 带隙宽度 X射线衍射
王永利 马瑾 葛松华 冯先进 杨帆 刘汝军 马洪磊
山东大学,物理与微电子学院,山东,济南,250100 青岛科技大学,物理系,山东,青岛,266061 济南大学,成教学院,山东,济南,250022
国内会议
敦煌
中文
271-272,275
2006-07-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)