测试集划分的多扫描链二次测试数据压缩方法
本文提出了一种具有普遍意义的多扫描链二次测试数据压缩方法,针对在一些确定位分布不均的测试集中,相容压缩效果因个别位的存在受到严重影响的问题,提出了解决方案.首先,在基于多扫描链重新排列的测试集中提取出特定的列,尽量扩大相容性,然后,进行相容压缩;接着将结果再次重排,通过使用通信协议简单的距离标记法,并结合距离出现的频率特征,实现了对测试集的第二次压缩.在解压时,无需改变被测试电路的扫描链结构,能高效地还原出原测试集.这种方法有效地压缩了测试数据,减少了测试时间,从而有效的降低了对ATE的存储器和带宽的要求.对标准电路的实验结果显示,这种方法明显优于FDR码,是一种非常高效的压缩方法.
测试数据压缩 多扫描链 相容压缩 距离标记法 芯片测试
张磊 梁华国 陶珏辉
合肥工业大学计算机与信息学院,安徽,合肥,230009
国内会议
太原
中文
683-688
2006-07-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）