机载电子产品可靠性试验时间压缩技术研究

摘要：

本文对现有可靠性试验剖面的制定原则进行了分析,从产品的故障失效机理出发,统计了可靠性鉴定试验中的机载电子产品的故障,对出现的故障进行了失效机理分析,找出故障和应力之问的对应关系,从而对典型的可靠性试验剖面进行了剪裁,缩短了机载电子产品的可靠性试验时间,提高了可靠性试验的效率.

关键词： 机载电子产品 可靠性试验 时间压缩 剖面剪裁

作者: 汪启华 魏莱 王建刚

作者单位: 中国航空综合技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航空学会可靠性工程专业委员会第十届学术年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 220-227

在线出版日期: 2006-07-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）