关键词: 数显长度仪 仪器校验 光栅 示值稳定性
作者: 张爱辉 钟辉 遇传琛
会议类型: 国内会议
会议名称: 中国科协2005年学术年会分会场——企业计量测试与质量管理
会议地点: 乌鲁木齐
会议语种:中文
页码: 374-377
在线出版日期: 2005-08-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)