瓦形磁体内弧细裂纹成因探讨

摘要：

在瓦形磁体的生产过程中,会出现诸如端裂、侧裂、龟裂、跑浆、刹平台等多达十余种不同特征的裂纹缺陷,极大的制约了产品的成品率.通过分析,本文认为裂纹的产生来源于成型和烧结两大工序,并对瓦形磁体内弧细裂纹成因进行了探讨.

关键词： 瓦形磁体 内弧裂纹 成品率

作者: 李良俊

作者单位: 宜宾金川电子有限责任公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国磁性材料产业市场发展高峰论坛

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 62-64

在线出版日期: 2006-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）