新生儿缺氧缺血性脑损伤的影像诊断
新生儿缺氧缺血性脑病(HIE),常引起新生儿死亡和其后神经系统发育障碍,主要与围产期窒息有关.早期诊断是降低死亡率,致残率的关键.目前许多医院已把CT作为一种常用的检查方法用于围产期窒息后颅内病变的检查,有力地推进了新生儿缺氧缺血性脑病的诊断、治疗和愈后的评估.
新生儿 缺氧缺血性脑病 CT 发病机理
鲍家启
安徽省立儿童医院,230051
国内会议
杭州
中文
113-116
2006-04-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
新生儿 缺氧缺血性脑病 CT 发病机理
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