铁电畴的扫描探针声学显微术

摘要：

一种新的表征技术--扫描探针声学显微成像技术(ScanningProbeAcoousticMicroscopy)已在我们实验室建立起来,可以用它来直接观察PMN-PT弛豫铁电单晶、透明PLZT陶瓷、无铅Bi4(Ti,Nb)3O12陶瓷等材料的纳米极性微区和弹性作用区,并显示了在低频工作状态下可以达到10nm的分辨率.

关键词： 扫描探针 声学显微成像 铁电畴 PLZT陶瓷 弛豫铁电单晶 纳米极性

作者: 余寒峰 殷庆瑞

作者单位: 中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室,上海,200050

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国电介质物理、材料与应用学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 99-101

在线出版日期: 2005-10-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）