高纯HgI2多晶粉末的合成及表征

摘要：

以高纯Hg和I2单质为原料,采用两温区合成法制备碘化汞(HgI2)多晶.用X射线衍射方法对合成的HgI2晶体结构进行测定,用电感耦合等离子体发射光谱仪分析晶体的纯度,用扫描电子显微镜-X射线能量色散分析仪对其化学计量比进行分析,并结合差式扫描量热仪对其相变行为进行分析.研究结果表明,用两温区合成法制备出的HgI2为四方相的α-HgI2多晶粉末,产物的纯度达99.999286％、化学计量比为1:2.028.

关键词： 碘化汞多晶 两温区法 X射线衍射 差式扫描量热

作者: 吴丽 介万奇 李文渭 李焕勇

作者单位: 西北工业大学,材料科学与工程学院,西安,710072

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国青年材料科学技术研讨会

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 1924-1927

在线出版日期: 2005-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）