铂粉物理特性对厚膜铂电阻温度系数的影响

摘要：

本文采用化学还原方法制备3种超细铂粉,通过对铂粉物理特性的测试和微观结构分析,解释了引起电阻温度系数(TCR)变化的原因.发现粒度分布为0.1～0.6μm,比表面积1.45m2·g-1,松装密度0.85g·cm-3,表面光滑的2＃球形铂粉,用于制作厚膜铂电阻温度传感器生产工艺可行,电阻温度系数达到380×106·℃-1,是一种理想的电阻材料.

关键词： 超细铂粉 粉体制备 铂膜电阻

作者: 陈峤 贺昕 朱晋 吴聪 李治宇

作者单位: 北京有色金属研究总院,有研亿金新材料股份有限公司,北京,100088

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届全国贵金属学术研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 465-467

在线出版日期: 2005-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）