会议专题

钨辐射损伤随辐照剂量变化的重离子辐照模拟研究

采用重离子辐照模拟方法和正电子湮没寿命测量技术研究了钨辐射损伤随辐照剂量的变化.20, 60和90 dpa(每个原子的位移次数)辐照损伤水平的实验结果表明, 辐照在钨中产生单空位、双空位、位错和空位团等缺陷;随辐照剂量的增大, 单空位、双空位和位错浓度增加, 空位团的尺度和浓度都随之增大.

钨 辐射损伤 重离子辐照模拟 正电子湮没寿命测量

郑永男 朱升云 左翼 周冬梅 袁大庆 杜恩鹏 段晓 王朝晖 刘猛 李永

中国原子能科学研究院,北京,102413

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第二届全国反应堆物理与核材料学术研讨会

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207-209

2005-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)