掺Si对MOCVD生长的GaN单晶膜的黄带发射及生长速率的影响
对MOCVD生长GaN:Si薄膜进行了研究,研究表明随SiH<,4>/TMGa流量比增大,GaN:Si单晶膜的电子浓度增大,迁移率下降,X射线双晶衍射峰半高宽增加,同时带边发射强度得到了大大的提高,并报导了随SiH<,4>/TMGa流量比增大,GaN:Si的生长速率降低的现象。研究结果表明,预反应对GaN:Si单晶膜黄带发射影响很大,预反应的减小可以使黄带受到抑制。
MOCVD 光致发光 生长速率
李述体 莫春兰 李鹏 王立 熊传兵
南昌大学材料科学研究所(南昌)
国内会议
海口
中文
385~389
2000-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)