ESD特征参数与受试设备耦合电压关系实验研究

摘要：

本文研究静电放电(ESD)辐射场对电子设备的危害.利用电小单极子天线和IEC61000-4-2规定的电流波形标定装置组建的国内第一台静电放电电磁场测试系统,对空气式静电放电进行了系统的实验研究,确定了ESD特征参数与受试设备接受到的ESD耦合电压之间的关系.得出结论,ESD耦合电压的大小受放电电流上升时间tr和电流峰值Ip两种因素影响,且受上升时间的影响更大.为电子器件及设备抗ESD设计提供了客观的数值依据.

关键词： 静电放电 耦合电压 电子设备 辐射场 电磁场测试 电磁兼容

作者: 徐晓英 刘尚合 张希军 雷磊 管琼

作者单位: 武汉理工大学,静电技术研究所,湖北,武汉,430063 军械工程学院,静电与电磁防护研究所,河北,石家庄,050003

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国物理学会静电专业委员会第十二届学术年会

会议地点: 青岛

会议语种:中文

页码: 53-56

在线出版日期: 2005-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）