成败型产品可靠性增长分析研究

摘要：

本文运用Gompertz模型和最小二乘估计法对成败型产品进行了可靠性增长分析.首先分析了Gompertz模型的使用条件,然后给出了Gompertz模型参数的最小二乘估计,根据历次试验数据建立可靠性增长模型,最后得到产品试验的可靠性预测值和估计值,并进行了实例分析.

关键词： 产品开发 可靠性增长 最小二乘估计

作者: 刘飞 窦毅芳 张为华

作者单位: 国防科技大学,航天与材料工程学院,湖南,长沙,410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十六届中国过程控制学术年会暨第四届全国故障诊断与安全性学术会议

会议地点: 山东济南

会议语种:中文

页码: 277-279,321

在线出版日期: 2005-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）