YBCO薄膜热稳定性和微结构的关系研究
本文主要研究了YBCO薄膜的微结构对于其过热行为的影响.通过高温金相显微镜对具有不同微结构的YBCO薄膜的不同的熔化行为进行了实时观测,并且用原子力显微镜(AFM)和X射线衍射仪(XRD)对这些具有不同品质的薄膜进行表征.结果表明,YBCO薄膜的微结构对于其过热度以及整个薄膜熔化的过程有很大的影响,高品质的薄膜具有低界面缺陷比率,由此导致了其在熔化过程中较高的过热度.本文同时在实时观测,AFM和XRD所得到实验结果的基础上,通过半共格界面能的理论很好的解释了YBCO薄膜在不同的微结构情况下体现出来熔化和过热行为的差异.
超导薄膜 热稳定性 过热度 界面缺陷
蔡衍卿 姚忻 李刚 饶群力
上海交通大学理学院物理系,上海,200240
国内会议
上海
中文
623-628
2005-04-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）