基于实时无损压缩技术的频率自适应采样策略
采样频率是存储测试仪器的一个关键指标,如何实现频率自适应采样一直是测试仪器研究的重要课题.本文介绍了基于实时无损数据压缩技术的自适应采样方法.压缩算法采用LZW数据压缩算法,在硬件设计过程中,采用VHDL(Very-High-SpeedIntegratedCircuitHardwareDescriptionLanguage)语言编写程序,烧写FPGA(FieldProgrammableGateArray)芯片实现硬件压缩电路.通过对实测数据进行检测实验,此自适应采样模块可以实现频率自适应采样,频率自适应范围30kHz～2MHz.
数据压缩 频率自适应采样 实时无损压缩 存储测试仪器
张晋业 祖静
中北大学仪器科学动态测试教育部重点实验室,太原,030051
国内会议
宜昌
中文
747-749
2005-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）