银基带再结晶织构的EBSD分析
本文采用EBSD(电子背散射衍射)等分析手段对”110”<110>取向的银基带的织构形成机理进行了深入研究,发现了冷轧织构与不同退火温度下再结晶织构间的取向转变关系,研究发现,”110”面附近且非”110”<211>取向的冷轧织构组分,900℃退火可以转变为强的”110”<110>织构.织构转变中有孪晶形成,”110”<110>和”110”<114>取向互为孪晶关系.
银基带 织构 电子背散射衍射 再结晶
刘丹敏 刘星 郝斐 高菲 吉元 戴琳 周美玲
北京工业大学材料学院,北京,100022
国内会议
上海
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859-863
2005-04-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)