La2-xBaxCuO4超导体的PAT研究
本文阐述了在室温下对La2-xBaxCuO4超导系列样品的正电子寿命谱(PAT)测量,讨论了正电子湮没机制与超导转变温度的关联,并从电子密度转移方面解释了La2-xBaxCuO4超导样品在1/8处的转变温度受抑制的原因.
高温超导体 正电子湮没 超导电性 临界温度
胡保付 王艳文
河南师范大学物理与信息工程学院,河南新乡,453007 新乡医学院生命科学技术系,河南新乡,453003
国内会议
上海
中文
555-558
2005-04-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)