集成电路专用芯片设计中的测试

摘要：

本文举例说明了测试在集成电路专用芯片设计中的目的和意义,详细阐述了测试在芯片设计各个阶段的关键点.以便工程师更充分认识专用芯片的各个阶段的测试重点,使工程师们更好地把握各个芯片设计阶段的测试.如此完成测试,可提高产品的成品率.

关键词： 集成电路 芯片设计 测试

作者: 刘丽 刘第 刘明亮

作者单位: 吉林省新立城水库,长春,130022 北京工业大学,北京,100022

会议类型: 国内会议

会议名称: 2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 宜昌

会议语种:中文

页码: 645-648

在线出版日期: 2005-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）