基于SoPC的内建自测试系统研究

摘要：

随着微电子技术的发展,BIST逐渐成为针对SOC或SoPC的主要测试方法之一.本文对BIST进行了总结,介绍了BIST的一般原理和已有的BIST系统存在的主要问题,提出了一种基于SoPC的以”NIOS”嵌入式软核处理器为核心的BIST测试体系结构,在此基础上进行了BIST层次化测试以及测试进程优化的分析.此外,详细分析了现有的嵌入式存储器BIST测试方法并探讨了嵌入式存储器BIST测试发展趋势.最后介绍了在FPGA上实现基于SoPC的BIST系统的方法步骤.

关键词： 内建自测试 SoPC 测试体系结构 层次化测试

作者: 姚宗中 陈圣俭 牛春平

作者单位: 装甲兵工程学院,北京,100072

会议类型: 国内会议

会议名称: 2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会

会议地点: 宜昌

会议语种:中文

页码: 512-516

在线出版日期: 2005-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）