Pr2O3取代Sm2O3对CLST微波介质陶瓷介电性能的影响
论述了使用Pr2O3取代Sm2O3对CaO-Li2O-Sm2O3-TiO2(CLST)微波介质陶瓷介电性能的影响.采用传统固相反应法制备16CaO-9Li2O-xPr2O3-(12-x)Sm2O3-63TiO2(简写为CLPST-x)陶瓷.XRD分析结果表明,不同取代量的CLPST-x呈现单一的正交钙钛矿结构.当CaO:Li2O:PrO3:Sm2O3:TiO2=16:9:4:8:63,烧结温度为1300℃时,CLPST-x能够取得良好的介电性能.εr=101,tanδ=0.00923,τr=-85ppm/℃(1MHz),此时,晶粒大小均匀,晶界清晰.
微波介质陶瓷 介电性能 CLST
胡动力 曾令可 刘平安 税安泽 王慧 刘艳春 李谦
华南理工大学材料学院,广州,510640 河南科技大学材料学院,洛阳,471003
国内会议
咸阳
中文
15-19
2006-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）