纳米粉体AFM分析理想分散度的制样研究
纳米粉体的颗粒细小、比表面大、活性高、容易团聚,样品制备的好坏直接影响到AFM成像质量和测量的准确性,本文对影响制样质量的主要因素进行了研究.在改善颗粒团聚和分布均匀性方面,采用旋涂(sp)法制样,和常用滴液法相比,颗粒更分散、分布更均匀,随机选取1～2个测试点获得的测量结果具有一定的代表性和普遍性.时影响纳米粉体AFM成像清晰性和准确性,即分散度的制样条件进行了探讨,建立了AFM理想成像模型,推导了分散度α、理想浓度C、修正系数K的计算公式,并从实验上进行了验证。
分散度 AFM 纳米粉体 表征 旋涂法制样 成像模型
谢湘华 罗建强 董亚明
华东理工大学,上海,200237 上海师范大学,上海,200234
国内会议
上海
中文
66-69
2004-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）