X射线及磁记忆法对高压气瓶的检测研究
本文就压缩天然气的高压气瓶应力状态进行了系统分析,研究气瓶制造过程及最终投入运行时的残余应力状况.对一个高压气瓶整体制造工艺中的残余应力变化进行了跟踪测试.分别考察了气瓶锻造后、淬火后及回火后外表面的残余应力状况.用X射线法分别对相同的测点进行了应力测试.为了更准确地找到测点位置,在残余应力测试之前,对高压气瓶整体进行了金属磁记忆的缺陷诊断.结果表明:热处理有效地消除了淬火造成的残余应力,回火后气瓶最大残余应力小于0.17σs,同时使应力均匀化,效果良好.
高压气瓶 残余应力 X射线法 磁记忆法
张亦良 徐学东
北京工业大学,100022
国内会议
苏州
中文
373-379
2003-11-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）