微扫描技术及其在光电成像系统中的应用
微扫描是一种减小光电成像系统频谱混淆的重要手段.本文介绍了微扫描的原理、装置、工作模式和微扫描过程模型,应用取样定理,阐述了微扫描对成像系统分辨率改善的机理.根据J.Feltz所提出的理论,讨论和分析了信号强度波形与探测器单元之间的位相关系对调制传递函数(MTF)的影响,计算机模拟了引入微扫描后位相对调制传递函数的影响.运用Park假设,模拟和分析了不采用微扫描和采用微扫描时抽样子系统MTF的变化.
光电成像系统 微扫描 取样定理 频谱混淆 光学探测器
曲艳玲 张新
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,光学技术研究中心,吉林,长春,130022
国内会议
哈尔滨
中文
74-79
2003-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）