算术等间隔密集采样技术的应用及其对瞬变电磁(TEM)法探测结果的影响
瞬变电磁法(TEM)对数间隔窗口数据存在局限性.改用算术间隔数据,可延长有效窗口的使用时间.同等条件下,可加大TEM法的探测深度.算术间隔TEM法还可提高实际探测结果的分辨能力,特别是大大提高深部探测的分辨率.
瞬变电磁法 算术等间隔密集采样 探测分辨率
周安昌
北京赛诺静远科技发展有限公司
国内会议
北京
中文
206-210
2003-11-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
瞬变电磁法 算术等间隔密集采样 探测分辨率
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