电沉积银纳米膜的光学性质研究
本文对电沉积银纳米膜的光学性质进行了研究。X射线光电子能谱对电沉积制备的银纳米膜的测试表明,纳米膜中的银显示出银元素的特征峰；采用四探针测试仪测量银纳米膜的电导率,发现银纳米膜的电导率比纯银要下降两个数量级；X射线衍射分析发现,银纳米膜的衍射峰相对于纯银发生了宽化,并由此计算出平均颗粒大小；紫外-可见分光光度计测量了纳米膜的吸光度,其吸收峰发生”蓝移”;银纳米膜的熔点也会变低；用椭圆偏振仪测试不同波长下的复折射率和复介电常数及纳米膜的厚度；用Z-扫描装置测量出银纳米膜具有非线性折射性质,并计算了非线性折射系数。
银纳米膜 薄膜光学 电沉积
乐士儒 栾野梅 安茂忠
哈尔滨工业大学应用化学系,哈尔滨,150001
国内会议
重庆
中文
79-82
2004-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）