快沿电磁脉冲(FREMP)对器件及单元电路的实验研究

摘要：

该文首先对FREMP对分立器件和集成电路以及单元电路的实验规范做了介绍。重点阐述FREMP对电子元器件、集成电路以及单元电路的损伤效应，给出了实验结果，并与FREMP损伤效应进了比对。

关键词： 电磁脉冲 器件 操作效应 实验研究

作者: 祝敏 梁坚 何宝平 焦杰 郑振兴 曹鹏

作者单位: 核技术研究所(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 225～228

在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）