基于Talbot效应和moire条纹的CCD精细拼接理论研究

摘要：

本文只用一块光栅和DⅡ-180°直角棱镜相结合并利用Talbot效应和moire条纹来进行CCD精细拼接.拼接精度可达到单个像元尺寸的1/20.

关键词： 电荷耦合器件 Talbot效应 moire条纹 焦平面 精细拼接

作者: 王虎 苗兴华

作者单位: 中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学室(西安);中国科学院研究生院(北京) 中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学室(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国兵工学会第十二届测试技术学术年会

会议地点: 广西北海

会议语种:中文

页码: 45-48

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）