非接触式全场三维激光ESPI与Shearography(NDT)测试技术
本文介绍最新激光电子散斑干涉技术ESPI与Shearography激光错位检测技术的基本原理及其应用.该技术是近十年间发展起来的最新的光测技术,它们的特点是非接触式全场三维测试,适用于新材料研究、电子元器件与构件的力学性能试验、振动测试及无损检测.国外的应用表明,ESPI技术可以提供快速、全场、三维的测试信息,能解决许多目前电测方法所不能解决的复杂问题,是目前具有广泛工程应用前景的先进的光测技术.
激光干涉 电子散斑干涉 数字全息技术 非接触测量
王幼玲
北京安和灵捷科技有限责任公司(北京市)
国内会议
广西北海
中文
149-152
2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）