无损数据压缩在存储测试系统中的应用研究

摘要：

本文探讨了无损数据压缩技术在存储测试系统中的应用.通过对几种常用的无损数据压缩方法比较,验证了LZW算法在存储测试系统中应用的可行性,给出了LZW算法的基本思想及改进方法,并研究了利用VHDL及FPGA实现硬件压缩的可行性,并且实践验证了LZW算法在存储测试系统中具有较好的压缩效果.因此利用FPGA实现无损数据压缩可以获得较高的速率,适合在存储测试系统以及微型数据采集系统中应用.

关键词： 存储测试 无损数据压缩 数据采集 压缩算法

作者: 谢浔 张志杰 裴东兴

作者单位: 华北工学院仪器科学与动态测试教育部重点实验室(太原)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国兵工学会第十二届测试技术学术年会

会议地点: 广西北海

会议语种:中文

页码: 169-172

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）