应用内外迭代的FGMRES-FFT技术快速分析腔体微带贴片天线和阵列天线的散射特性
本文将有限元边界积分(FE-BI)方法被应用于分析腔体微带天线及天线阵的散射特性.FE-BI方程使用brick体元进行离散,FGMRES迭代方法结合快速傅立叶变换技术(FFT)被用于求解FE-BI方程.分析结果表明,FGMRES迭代方法结合FFT技术可以快速准确地分析腔体贴片微带天线和天线阵的散射特性.
微带贴片天线 系数矩阵 收剑曲线 矩阵矢量
李尚生 丁大志 庄伟 陈如山
海军航空工程学院电子工程系(山东烟台) 南京理工大学电子工程与光电技术学院(江苏南京)
国内会议
烟台
中文
241-243
2004-08-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)