基于小波变换的磁控溅射Cu-W薄膜生长表面形貌评价
本文运用离散小波变换(DWT)法研究磁控溅射铜钨薄膜表面特征随溅射时间的演变.提出了一种基于小波变换表征生长薄膜表面形貌的方法.结果表明,高频部分引起薄膜表面形貌的变化.Cu-W薄膜在溅射时间超过600s时才达到稳定.
Cu-W薄膜 表面形貌 小波变换 铜钨薄膜 离散小波变换 磁控溅射
汪渊 白宣羽 徐可为 范多旺
西安交通大学金属材料强度国家重点实验室(西安);兰州铁道学院机械工程系(兰州) 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室(西安) 兰州交通大学光电技术与智能控制教育部重点实验室(兰州)
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2004-12-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)