ICT的发展及其应用
本文概述了X射线计算机层析技术的发展和现状.列举了ICT技术在材料工艺研究中应用的部分实例.介绍了封闭物体内小尺寸间隙的精确测量方法,利用区域内特征信息的概率密集,采用区域边界积分计算方法,使最小可测量几何尺寸由0.35mm延伸到0.01mm,测量精度由0.05mm提高到0.005mm.提出开展小焦点加速器源ICT和中子源ICT的研究,是发展ICT技术的重要课题.
计算机断层成像 工业无损诊断 小间隙测量 测量精度
李炬
中国工程物理研究院(四川绵阳)
国内会议
四川江油
中文
17-24
2004-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）