关于BIT虚警问题的探讨

摘要：

虚警率是测试性的重要参数之一.结合国内实际情况,得要论述了BIT虚警定义、指标的确定、降低虚警率的方法、以及虚警率的预计和验证等问题.

关键词： 机内测试 机内测试虚警 虚警率

作者: 田仲 石君友

作者单位: 北京航空航天大学十四系(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届国际可靠性、维修性、安全性会议

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 802-807

在线出版日期: 2004-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）