扫描电化学显微镜及其在金属局部腐蚀研究中的应用

摘要：

扫描电化学显微镜(SECM)技术是一种基于电化学原理的扫描探针显微技术,近年来已开始用于研究金属表面钝化膜破坏及局部腐蚀的初始阶段,它提供的微探针在基底不同位置上的Farady电流图像除了能给出样品表面拓扑形貌外,还能够确定电极表面的”化学灵敏性”,即电极表面化学活性分布的信息.

关键词： 扫描电化学显微镜(SECM) 局部腐蚀 探针 孔蚀 钝化膜

作者: 牛林 武素香 张虎 刘朋

作者单位: 山东大学化学与化工学院(济南)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国腐蚀电化学及测试方法学术交流会

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 149-150

在线出版日期: 2005-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）