高过载条件下电子元件动态测试研究

摘要：

本文利用标准锤击机和高速数据采集装置,在高过载条件下对电子元件的参数进行了大量的动态测试实验,研究了高过载条件下元件性能参数的变化规律.对提高高过载条件下电子元件的可靠性寿命具有重要的参考价值.

关键词： 高过载 动态测试 暂时失效 电子元件

作者: 张亚 李波 李世中

作者单位: 华北工学院机械电子工程系(山西太原)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届国际可靠性、维修性、安全性会议

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 236-239

在线出版日期: 2004-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）