电子元件的高温动态测定实验研究

摘要：

本文提出一种基于低功耗测试电路和PC机的高温动态测定实验方案,可用来测定电子元件的温度性能,最后通过实例验证了方案的可行性.

关键词： 高温试验 动态测定 温度性能 电子元件

作者: 李波 李世中 张亚

作者单位: 华北工学院机械电子工程系(山西太原)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届国际可靠性、维修性、安全性会议

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 232-235

在线出版日期: 2004-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）