γ射线辐照对数字型彩色CMOS图像传感器输出特性的影响

摘要：

研究了数字型彩色CMOS图像传感器的γ射线辐照效应.采用不同γ射线注量进行积累辐照和单次辐照.积累辐照后捕获的图像在1.2kGy时变得非常差,而单次辐照后图像在1.8kGy时才变得非常差.积累辐照由于类似加电模式而比单次辐照时性能退化严重.

关键词： 辐照效应 氧化物半导体 图像传感器 输出特性

作者: 孟祥提 康爱国 黄强

作者单位: 清华大学核能与新能源技术研究院(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届北京核学会核应用技术学术交流会

会议地点: 延吉

会议语种:中文

页码: 231-235

在线出版日期: 2004-09-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）