CCD图像边缘位移检测法及其应用

摘要：

CCD的分辨力是影响新型光电自准直仪测量精度和准确度的关键因素,边缘检测法是CCD位移测量的主要方法.本文对数字图像处理中直线拟合边缘检测法进行详细介绍,并将其应用到高精度一维光电自准直仪的研制中来.

关键词： 亚像素定位 边缘检测 直线拟合 光电自准直仪

作者: 杨博雄 陈志高 欧同庚 刘海波 郑勇

作者单位: 中国地震局地震研究所(武汉)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2004年全国测绘仪器综合学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 94-97

在线出版日期: 2004-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）