Cd<,1>-xZnxTe晶格常数的测定

摘要：

本文利用Cd1-xZnxTe晶体乌尔巴赫带尾吸收区内吸收系数α.=10cm<”-1>及α<,2>=20cm<”-1>对应的能量与组分的经验关系,测试了Cd1-xZnxTe晶体的Zn组分.实验结果表明:由红外透射光谱法获得的Zn组计算出的晶格常数与高分辨光射线衍射测得的晶格常数相比,偏差小于0.3﹪,因此,可将红外透射光谱法作为测量任意方向的Cd1-xZnxTe晶体组分及晶格常数的常规方法.

关键词： CdZnTe 红外透过率 X射线衍射 半导体检测 晶格常数

作者: 涂步华 方维政 刘从峰 孙士文 杨建荣

作者单位: 中国科学院上海技术物理研究所功能材料与器件研究中心(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 上海市有色金属学会、上海市金属学会半导体材料专委会学术年会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 64-67

在线出版日期: 2004-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）