带状线法测试高频聚合物薄膜微波介电特性

摘要：

本文研究了带状线测试高频聚合物薄膜微波介电特性的方法.通过测量样品的S参数和其3db带宽,由此确定样品的相对介电常数和损耗角正切,同时详细介绍了带状线谐振器的测试电路,以及影响测量精确度的关键因素.最后对几种薄膜样品进行了测试,计算结果表明了此种方法的实用性.

关键词： 带状线法 高频 聚合物薄膜 介电特性 谐振器

作者: 刘向洋 李英

作者单位: 上海大学理学院(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2003全国微波毫米波会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 327-330

在线出版日期: 2003-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）