CdZnTe晶体(111)面、(110)面和(100)面的蚀坑形貌观察

摘要：

利用CdZnTe晶体晶面夹角之间的关系采用激光正反射法对改进布里奇曼法生长的CdZnTe单晶进行定向,研磨出了CdZnTe单晶体的(111)、(100)面.采用自行研制的HHKA腐蚀液对三个面进行择优腐蚀,得到了(111)、(100)和(110)面的腐蚀照片,并计算出了蚀坑密度(EPD)约为10<”4>~10<”5>/cm<”2>数量级.结果表明生长晶体的质量较好.

关键词： 晶体生长 蚀坑密度 布里奇曼法 晶体定向

作者: 陈俊 朱世富 赵北君 高德友 魏昭荣 李含冬 韦永林 唐世红

作者单位: 四川大学材料科学系(四川成都)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国功能材料及其学术会议

会议地点: 秦皇岛

会议语种:中文

页码: 3320-3332

在线出版日期: 2004-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）