SnO<,2>掺杂对SrTiO<,3>环形压敏电阻性能的影响

摘要：

本文介绍了SnO<,2>掺杂对SrTiO<,3>环形压敏电阻性能的影响.电性能测试结果表明,在0.5—1.0mol﹪的掺杂范围内,随SnO<,2>的掺杂浓度增加,试样的E<,10>压敏电压从8.0V下降到4.0V,电容量从68μF增大到112μF,非线性系数α和介质损耗tgδ基本保持不变.试样的焊接变化率和高低温及温度循环试验特性均满足技术要求,但温度系数偏大.

关键词： SnO<,2> SrTiO<,3>陶瓷 环形压敏电阻 温度 压敏电压

作者: 李红耘 熊西周

作者单位: 广州新日电子有限公司(广东广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会敏感技术分会电压敏专业第十届学术年会

会议地点: 海口

会议语种:中文

页码: 21-27

在线出版日期: 2003-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）