数字电路测试生成算法综述

摘要：

随着数字电路的规模和复杂性不断增加,自动矢量生成技术已日益成为数字电路测试与诊断的瓶颈环节.本文主要讨论了电路的测试及故障检测的一些基本问题,并对数字电路测试生成的主要算法进行了分析和比较.最后预测了测试矢量自动生成技术的发展趋势.

关键词： 故障排除 测试矢量 数字电路 测试生成算法

作者: 于功敬 魏蛟龙

作者单位: 北京航天测控技术公司(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国测试与故障诊断技术研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 12-16

在线出版日期: 2004-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）