会议专题

光栅投影轮廓术的测量高度及适应性研究

针对光栅投影轮廓术的测量精度对待测物体缺乏适应性的特点,本文提出一种在彩色光栅投影下,用软件实现两次变精度测量的方法,以适应待测物体形面的突然起伏;同时,根据彩色光栅的特点,用软件实现提高系统的高度测量能力.实验证明本办法简单、可行.

光栅投影 条纹位移 空间频率 测量精度

林俊义 刘华 肖棋

华侨大学模具技术研究中心(泉州)

国内会议

福建省科协第四届学术年会暨提升福建制造业竞争力的战略思考专题学术年会

福建泉州

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118-121

2004-10-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)