X-射线荧光光谱法快速测定氢氧化铝中的SiO<,2>、Fe<,2>O<,3>、Na<,2>O

摘要：

作为生产氧化铝的原料,国内对氢氧化铝的测定均采用化学分析.本文探讨了用X-射线荧光光谱法直接压片测定氢氧化铝中的SiO<,2>、Fe<,2>O<,3>和Na<,2>O.该方法重现好,准确度高,对提高分析速度具有十分重要的意义.

关键词： X射线荧光光谱 氢氧化铝 分析速度 化学分析

作者: 吴志华

作者单位: 中铝广西分公司中心试验室(广西平果)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届有色金属化学与电化学分析、第六届有色金属色谱分析、第四届有色金属物理检测、首届有色金属质朴分析学术交流会、第九届轻金属分析学术会议

会议地点: 海口

会议语种:中文

页码: 234-236

在线出版日期: 2004-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）