长期储存试验中敏感参数衰减模型研究

摘要：

本文对某型号元器件贮存7年的敏感参数Y的测试数据随时间的变化趋势进行了研究,发现其随时间的变化总趋势趋于平缓;并对该敏感参数的数学衰减模型进行了研究,用非线性拟合确定了该型号元器件的敏感参数的衰减模型,其线性相关性都在80％以上.因而,该模型是可以接受的.

关键词： 敏感参数 储存试验 元器件贮存 衰减模型

作者: 李坤兰

作者单位: 信息产业部电子第五研究所(广州市)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届电子产品防护技术研讨会

会议地点: 安徽

会议语种:中文

页码: 45-53

在线出版日期: 2004-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）