多管脚IC的抗静电能力测试方法探讨

摘要：

本文介绍了当集成电路管脚比较多时在进行静电试验中出现的通道数不够和试验时间过长的问题,并介绍了用附加测试板解决测试仪通道少的方法和缩短脉冲间隔时间以及减少脉冲数量和最坏情况法来减少试验时间的方法.

关键词： 抗静电能力 测试方法 集成电路管脚 静电试验

作者: 李兴鸿 赵春荣

作者单位: 北京微电子技术研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届电子产品防护技术研讨会

会议地点: 安徽

会议语种:中文

页码: 124-126

在线出版日期: 2004-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）