生产与使用过程中要重视防静电

摘要：

本文讨论了静电对微电子器件可靠性的影响,并针对一个具体产品的失效分析,讨论了失效的原因及其改进办法.

关键词： 微电子器件 防静电 失效分析 可靠性

作者: 戴爱节 翁镇柱 孙键 林叶 於晓峰

作者单位: 中国电子科技集团公司第五十五所(南京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届电子产品防护技术研讨会

会议地点: 安徽

会议语种:中文

页码: 112-113

在线出版日期: 2004-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）