电磁干扰对电子元器件寿命试验影响和应变措施

摘要：

本文描述了电子元器件在寿命试验中受到的电磁干扰,寻找其干扰源,分析产生的干扰机理,从而采取有效措施,排除干扰,使寿命试验达到预期的目的.

关键词： 电子元器件 寿命试验 电磁干扰 干扰源 干扰机理

作者: 李碧珍

作者单位: 信息产业部电子第五研究所元器件检测中心(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届电子产品防护技术研讨会

会议地点: 安徽

会议语种:中文

页码: 103-107

在线出版日期: 2004-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）