环氧树脂648和TDE-85的电子辐照效应研究
通过地面模拟空间环境电子辐照条件(电子能量E<,e>=150KeV;束流密度A=2.0×10<”12>cm<”-2>·s<”-1>;辐照剂量范围Φ=0~5.0×10<”16>cm<”-2>;真空度10<”-6>Pa,环境温度120K),研究了没辐照剂量下环氧树脂浇注体648和TDE-85的质量损失、弯曲强度和表面的变化.试验结果表明,随着辐照剂量的增加,质量损失呈现先加速递增后趋于平缓的趋势;弯曲强度呈现先上升后下降的趋势;树脂表面产生了放电现象;表面粗糙度也发生了不同程度的变化.
环氧树脂 电子辐照 质量损失 弯曲强度
姜利祥 盛磊 童靖宇 冯伟泉
中国空间技术研究院总装与环境工程部(北京) 中国空间技术研究院508所(北京)
国内会议
成都
中文
1004-1009
2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）